Kniha Noise and reliability of semiconductor devices - proceedings of the International NODITO Workshop, [Brno], July, 18-20, 1995 - Trh knih - online antikvariát

Moje hodnocení
Zatím nikdo nehodnotil

[organized by Technical university of Brno] ; editors J. Sikula, P. Schauer

? obálka není k dispozici
nakladatel Technical University
rok vydání 1995
místo Brno
stran 228
rozměry 25 cm
poznámka il.
ISBN 80-214-0663-1 (brož.)

Prodám tuto knihu

Tuto knihu nikdo nenabízí

Nabízení knih k prodeji je dostupné pouze registrovaným uživatelům s ověřeným číslem mobilního telefonu. Zaregistrovat


Sháním tuto knihu

Tuto knihu zatím nikdo neshání

Sháním tuto knihu

Jakmile knihu někdo nabídne, dáme vám vědět.

Pokud sháníte více knih, doporučujeme se nejdříve zaregistrovat. Je to zdarma.

Komentáře

Tuto knihu zatím nikdo nekomentoval.

Pro přidávání komentářů se prosím přihlašte.

Nahlásit chybu u této knihy

Nahlásit chybu u této knihy